对于大多数商业和国防电子设备测试来讲，许多应用程序需要对一个显示器进行多次测量，一个样品要进行三次采样测量来确定其平均亮度。使用传统的基于单点测试的光度计或色度计测量是需要将测量点对准目标执行测量，然后移动仪器重新对准点，再次测量，以此类推直至测量完成。在测量过程中，特别是当必须对大量区域或者字符进行采样时，测量人员将消耗大量的时间成本。

    成像亮度计系统可以单次测量即可捕获整个样品，然后再用系统软件分析其亮度和色度。这种设计减少了因重新定位机器或样品所需要的时间，以及在每个位置处附加的测量时间。特别的是，在低亮度的情况下，成像亮度计可以多次采样叠加使测量更精准。

    传统的单点测试系统中，光穿过物镜，成像到镜子中的刻蚀的光阑上。在通过光阑后，待分析信号穿过滤波器，到达检测器，检测器通常为PMT或者硅光电二极管。